Rzecz o innowacjach podcast #5

0
183
dr Paweł Michałowski
dr Paweł Michałowski

Czas na kolejny podcast z Laureatami 5. edycji Forum Inteligentnego Rozwoju.

Rozmowa z dr Pawłem Michałowskim z Sieci Badawczej Łukasiewicz – Instytut Mikroelektroniki i Fotoniki na temat projektu „Charakteryzacja cienkich warstw z nanometrową i subnanometrową rozdzielczością wgłębną przy użyciu metody Spektrometrii Mas Jonów Wtórnych (SIMS)”.

Zacznę od samej techniki SIMS. W porównaniu z innymi, charakterystyczna dla niej jest niezwykła czułość. Wiele technik jest w stanie wykryć promil, jedną dziesiątą promila zanieczyszczeń, natomiast SIMS potrafi osiągać dużo lepszą wykrywalność. Jak można to wytłumaczyć?

Przykładem niech będzie olimpijski basen pełen wody – to jest jakieś 2,5 mln – 3 mln litrów wody. Wyobraźmy sobie, że wrzucilibyśmy do niego szczyptę soli, dosłownie dwa, trzy ziarenka. Jeśli byłoby urządzenie, które potrafiłoby wyczuć taką małą ilość soli w tak dużej ilości wody to działałoby z taką czułością jak potrafi działać SIMS. To jest właśnie ta niesamowita czułość techniki SIMS!

Rzecz o innowacjach podcast #5

Na rozmowę zaprasza dziennikarz redakcji rzecz o innowacjach Sebastian Wach.
Do usłyszenia!

ZOSTAW ODPOWIEDŹ

Proszę wpisać swój komentarz!
Proszę podać swoje imię tutaj